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发表日期:2017年11月27日      

喜讯:中心范更华教授、朱文兴教授和陈建利副教授课题组获

ICCAD 2017国际集成电路计算机辅助设计学术竞赛冠军

 

       2017年11月13日至16日,在美国加州尓湾召开的集成电路计算机辅助设计领域顶级学术会议--第36届国际集成电路计算机辅助设计会议(IEEE/ACM International Conference On Computer Aided Design 2017)公布了为期7个多月的ICCAD学术竞赛(CAD Contest @ICCAD 2017)的最终结果,由福州大学范更华教授、朱文兴教授和陈建利副教授以及博士生和硕士生组成的团队以巨大优势获得全球第一名(团队成员:朱自然,陈宇航,黄晔,李兴权,陈建利副教授,朱文兴教授,范更华教授)。这是该赛事有史以来中国大陆首次获得冠军,也是中国大陆在国际权威集成电路设计学术竞赛中首次获得冠军。

 

       本次福州大学参加的ICCAD竞赛题目由美国明导公司(Mentor Graphics Corporation,国际三大集成电路设计EDA公司之一)与美国美高森美公司(Micosemi Corporation)共同出题(题目为:Multi-deck Standard Cell Legalization)。此问题是当前集成电路先进制程下集成电路设计自动化所面临的难题之一,旨在将混合倍高标准单元放到合适的位置,使其满足所有技术约束条件(包括fence regions, power-ground alignment, pin short, pin access, edge spacing等)且单元总移动距离、最大单元移动距离和总线长等目标尽可能小。该项赛事从2017年2月1日开始至9月18日截止,最终提交的程序由Mentor Graphics公司进行结果分析与测试评分。竞赛题目共8组公开测试例子与8组隐藏测试例子。在所有的参赛队伍中,只有福州大学团队将16组测试例子全部解出,并且每组测试数据都得到最好的结果,体现出团队所设计的算法的巨大优势。赛事主席Ismail Bustany 用amazing results来赞誉福州大学团队所得到的实验结果。该题的二至七名获奖队伍分别是台湾大学、巴西圣卡塔琳娜联邦大学、台湾成功大学、德国德累斯顿工业大学、香港中文大学和美国德州大学奥斯汀分校。

 

       CAD Contest @ICCAD 每年举行一次,是集成电路芯片设计与计算机辅助工具研究领域影响范围最广、影响力最大的国际学术竞赛,每年都吸引世界各地近200支集成电路领域顶尖研究团队参与。该竞赛针对当前集成电路设计自动化所面临的亟需解决的问题,由国际业界一流集成电路设计公司直接出题,期望对目前工业界遇到的最困难的集成电路设计问题研发出更好的解决办法,竞赛的结果可以直接转化成工业界的解决方案,对集成电路计算机辅助设计的发展有很大的促进作用。该赛事每年2月份公布竞赛题目,7月份和8月份分别提交alpha test 和beta test版本,并在9月份提交最终研发成果和竞赛软件系统。所提交的软件系统由工业界公司负责测试,且在每年11月份召开的IEEE/ACM ICCAD国际集成电路计算机辅助设计会议公布最终竞赛结果。历年来,该竞赛已成为电子设计自动化(EDA)领域的年度盛事,每年的竞赛结果都吸引工业界和学术界的高度关注,并得到半导体工业最重要的专业媒体——电子时报(EE Times)的报道。

 

       此外,该团队的朱文兴教授和陈建利副教授与台湾大学张耀文教授合作,在2017年6月份召开的电子设计自动化领域顶级学术会议——第54届设计自动会议(ACM/IEEE Design Automation Conference 2017)上获得最佳论文奖。这是该会议54年来中国大陆学者首次以第一单位/第一作者获得最佳论文奖。以上研究工作获得国际学术同行及工业界的高度认可,为福州大学赢得了巨大荣誉,提高了福州大学的国际能见度。

 


 




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